量块---TESA 光学平晶

用来检查量块或者其它具有同等级精度平面的测试件的平面度和研合性。

TESA 单色光单元

为了与光学单面平晶和光学双面平晶配合使用，通过干涉法检测测量面的平面度和平行度。

单色光源可提供高对比度的干涉条纹。该光源波长单一，这样仅亮光条纹可见。

光源在测量面后边的情况下，如借助刀口平心尺或刀口尺也可肉眼进行检查。

TESA 量块：www.brainyht.com.cn